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分類:公司新聞 發(fā)布時(shí)間:2023-12-16 1817次瀏覽
110GHz光波元件分析儀,助力解決光芯片測試難題
隨著5G/6G光通信帶來的流量和速率的提升及物聯(lián)網(wǎng)、云計(jì)算帶動數(shù)據(jù)中心的大規(guī)模建設(shè),400G光模塊已成為下一代光通信網(wǎng)絡(luò)和新一代數(shù)據(jù)中心的主流方案,其核心的光芯片帶寬從50/67GHz逐步向110GHz演變。為解決大帶寬光芯片的頻響測試難題,思儀科技突破多項(xiàng)核心技術(shù),重磅推出Ceyear 6433P光波元件分析儀(Lightwave Component Analyzer, LCA),產(chǎn)品調(diào)制頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz,頻率響應(yīng)重復(fù)性±1.2dB,可實(shí)現(xiàn)光芯片的帶寬、平坦度、電反射等頻響參數(shù)的測量。
光芯片研發(fā)和生產(chǎn)中,對帶寬、電反射等指標(biāo)的測試,可準(zhǔn)確評估芯片的性能。6433P依據(jù)被測芯片的類型,搭配相應(yīng)的光電/電光轉(zhuǎn)換模塊,采用超寬頻帶1.0mm同軸連接,構(gòu)建“微波-電/光-光/電-微波”的測試鏈路,形成針對電光及光電芯片的頻響測試解決方案,如圖2為電光芯片(電光調(diào)制器芯片)頻響測試解決方案。
是德科技E5080B 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀keysight E50...
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