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寧波Ceyear思儀 3674系列網(wǎng)絡(luò)分析儀3674B、3674C、3674D、3674E、3674F 、3674G 、3674H、3674K、3674L、3674N、3674P/PA

產(chǎn)品分類:網(wǎng)絡(luò)分析儀
產(chǎn)品簡(jiǎn)介: Ceyear 3674系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是技術(shù)創(chuàng)新的之作,可以輕松應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體芯片測(cè)試、材料測(cè)試、天線測(cè)試、高速線纜測(cè)試、微波部組件測(cè)試等帶來(lái)的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相...

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產(chǎn)品概述

Ceyear思儀新產(chǎn)品 3674系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀3674B、3674C、3674D、3674E、3674F 、3674G 、3674H、3674K、3674L、3674N、3674P/PA


主機(jī)型號(hào)

3674B          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~9GHz

3674C          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~14GHz

3674D          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~20GHz

3674E          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~26.5GHz

3674F          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~32GHz

3674G          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~44GHz

3674H          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~50GHz

3674K          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~53GHz

3674L          矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~67GHz

3674N         矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~90GHz

3674P/PA   矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀     500Hz/10MHz~110GHz


選件型號(hào)

3674-006     英文選件                                    配置英文前后面板和英文操作系統(tǒng)。

3674-009     二端口擴(kuò)頻控制機(jī)                     用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀頻率擴(kuò)展,實(shí)現(xiàn)二端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擴(kuò)展功能。必選S20, 支持3674E/F/G/H/K/L

3674-010     四端口擴(kuò)頻控制機(jī)                     用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀頻率擴(kuò)展,實(shí)現(xiàn)四端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀擴(kuò)展功能。必選S20, 支持3674E/F/G/H/K/L

3674-011     110GHz同軸擴(kuò)展模塊               用于矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀頻率擴(kuò)展,實(shí)現(xiàn)10MHz~110GHz同軸S參數(shù)測(cè)量。必選009/010+S20, 支持3674E/F/G/H/K/L

3674-060     外置操作面板選件                     用于擴(kuò)展前面板,實(shí)現(xiàn)遠(yuǎn)距離操控,增加按鍵數(shù)量。

3674-061     延伸工作臺(tái)選件                        用于測(cè)試時(shí)的桌面延伸,長(zhǎng)×寬=500mm×350mm。

3674-062     上機(jī)柜選件                               機(jī)柜安裝結(jié)構(gòu)件。

3674X-003   噪聲系數(shù)測(cè)量選件                    用于S參數(shù)、噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)的測(cè)量。注:二端口電子校準(zhǔn)件和噪聲源需要單獨(dú)購(gòu)置。必選201/401+204/404 支持3674E/F/G/H

3674X-008   脈沖測(cè)量選件                           用于脈沖狀態(tài)下S參數(shù)測(cè)量,端口1、3輸出脈沖調(diào)制信號(hào)。

3674X-018   多端口擴(kuò)展裝置                        用于擴(kuò)展矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀為16端口。必選400+404, 支持3674E/F/G/H/K/L

3674X-023   混頻器/變頻器矢量測(cè)量選件     用于混頻器矢量參數(shù)測(cè)量。必選204/404+S20

3674X-200    二端口標(biāo)準(zhǔn)型                           二端口S參數(shù)測(cè)量。

3674X-201    二端口程控步進(jìn)衰減器選件      配置源通路2個(gè)程控步進(jìn)衰減器,接收機(jī)通路2個(gè)程控步進(jìn)衰減器。必選204

3674X-203    二端口500Hz低頻擴(kuò)展選件      頻率范圍下限可擴(kuò)展至500Hz。必選204 與205互斥

3674X-204    二端口面板跳線                        對(duì)測(cè)試裝置進(jìn)行擴(kuò)展。

3674X-205    二端口偏置T選件                      用于端口輸出直流偏置電壓。必選201+204 與203互斥

3674X-400    四端口標(biāo)準(zhǔn)型                            雙源激勵(lì)四端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀配置。

3674X-401    四端口程控步進(jìn)衰減器選件       配置源通路4個(gè)程控步進(jìn)衰減器,接收機(jī)通路4個(gè)程控步進(jìn)衰減器。必選400+404

3674X-402    有源互調(diào)失真測(cè)量選件              用于有源互調(diào)失真信號(hào)測(cè)量。必選400+404+S20

3674X-403    四端口500Hz低頻擴(kuò)展選件       頻率范圍下限可擴(kuò)展至500Hz。必選400+404 與405互斥

3674X-404    四端口面板跳線                         對(duì)測(cè)試裝置進(jìn)行擴(kuò)展。必選400

3674X-405    四端口偏置T選件                       用于端口輸出直流偏置電壓。必選400+401+404 與403互斥

3674X-S05    S參數(shù)信號(hào)完整性分析選件         用于分析系統(tǒng)的頻域、時(shí)域TDR和串?dāng)_等信號(hào)完整性特性,可自動(dòng)將圖形曲線轉(zhuǎn)換成測(cè)試報(bào)告。


軟件型號(hào)

3674X-S07     AFR自動(dòng)夾具移除選件     用于單端及平衡器件測(cè)量夾具自動(dòng)測(cè)試及移除。

3674X-S10     時(shí)域測(cè)量選件                   用于時(shí)域測(cè)量,可確定器件、夾具或電纜中不連續(xù)位置并進(jìn)行分析。

3674X-S11     時(shí)域分析選件            用于TDR時(shí)域阻抗測(cè)試、眼圖分析等。

3674X-S16     真差分測(cè)量選件               用于真實(shí)差模、共模激勵(lì)平衡參數(shù)測(cè)量。必選400+404+S28

3674X-S18     快速連續(xù)波掃描               使用FIFO緩沖法,即時(shí)讀取數(shù)據(jù)。

3674X-S20     頻偏測(cè)量選件                   用于頻率偏移測(cè)量。必選204/404

3674X-S22     混頻器/變頻器標(biāo)量測(cè)量選件     用于混頻器標(biāo)量參數(shù)測(cè)量。必選S20

3674X-S24     嵌入式本振變頻器測(cè)量選件       用于內(nèi)嵌本振變頻器測(cè)量。必選204/404+S20+S22/023

3674X-S26     增益壓縮二維掃描測(cè)量選件       用于放大器等增益壓縮二維掃描測(cè)量。

3674X-S28     相位掃描選件                            用于相位掃描測(cè)量。必選400

3674X-S30     頻譜分析選件                            用于提供多通道頻譜測(cè)試功能。

3674X-S31     THD測(cè)量選件                            用于差分放大器總諧波失真測(cè)試功能。必選400+S28


標(biāo)配附件

電源線組件

USB鍵盤/鼠標(biāo)

用戶手冊(cè)

產(chǎn)品合格證

鋁合金箱


產(chǎn)品綜述

Ceyear 3674系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀是技術(shù)創(chuàng)新的之作,可以輕松應(yīng)對(duì)半導(dǎo)體芯片測(cè)試、材料測(cè)試、天線測(cè)試、高速線纜測(cè)試、微波部組件測(cè)試等帶來(lái)的嚴(yán)峻挑戰(zhàn)。出色的射頻特性、靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成,只需一次連接即可完成多種測(cè)量任務(wù)。創(chuàng)新的人機(jī)交互設(shè)計(jì)可幫助您快速便捷地完成所需的測(cè)量設(shè)置,超大觸摸屏為您帶來(lái)靈活、高效的操作體驗(yàn)。


功能特點(diǎn)

脈沖S參數(shù)測(cè)量

內(nèi)置4路脈沖發(fā)生器,用于內(nèi)部源調(diào)制、中頻門控制,并從后面板輸出。每路脈沖發(fā)生器的脈寬和延時(shí)獨(dú)立可設(shè)。


源調(diào)制來(lái)源包括后面板輸入、內(nèi)部脈沖發(fā)生器和常開、常閉等多種狀態(tài),既可利用外部脈沖對(duì)矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的源進(jìn)行調(diào)制,也可以使其處于連續(xù)波狀態(tài),通過(guò)觸發(fā)同步模式進(jìn)行測(cè)量,為T/R組件、天線收發(fā)模塊等測(cè)試提供有力支撐。


混頻器/變頻器標(biāo)量測(cè)量分析

提供完善的混頻器/變頻器特性設(shè)置,支持雙階本振、外部本振源輸入;支持線性掃、功率掃、段掃等多種掃描類型;通過(guò)簡(jiǎn)單設(shè)置可自動(dòng)完成復(fù)雜混頻器RF、雙LO、IF之間倍頻、分頻等特性計(jì)算;支持源端口功率、本振端口功率、衰減、功率掃特性設(shè)置等。


混頻器/變頻器矢量測(cè)量分析

提供完整的混頻器/變頻器幅度響應(yīng)、相位及時(shí)延響應(yīng)測(cè)量能力。校準(zhǔn)過(guò)程中引入雙混頻器實(shí)現(xiàn)參考通路變頻與校準(zhǔn)通路的變頻。引入的雙混頻器要求與被測(cè)件的變頻特性一致,且校準(zhǔn)混頻器要求變頻特性互易。


單次連接即可完成混頻器/變頻器復(fù)數(shù)特性測(cè)量,幅度和相位測(cè)量精度高。


增益壓縮測(cè)量

增益壓縮測(cè)量功能能夠通過(guò)一次連接、一次校準(zhǔn)完成有源器件在工作頻帶內(nèi)的線性增益、壓縮點(diǎn)增益、壓縮點(diǎn)輸入功率、壓縮點(diǎn)輸出功率、線性輸入匹配等壓縮參數(shù)測(cè)量。


增益壓縮掃描三維圖繪制

提供三維視圖功能,更好地展示被測(cè)件在激勵(lì)狀態(tài)下的工作性能,另外還可以展示頻率切面和功率切面,可以直觀展現(xiàn)被測(cè)件在每個(gè)頻率點(diǎn)和每個(gè)功率點(diǎn)的特性。


噪聲系數(shù)測(cè)量

一次連接,可同時(shí)測(cè)試S參數(shù)、噪聲系數(shù)、噪聲參數(shù)、增益壓縮和變頻增益等多種參數(shù)?;诶湓丛肼曄禂?shù)測(cè)試方法,可進(jìn)行的噪聲系數(shù)和噪聲參數(shù)測(cè)試。通過(guò)構(gòu)建先進(jìn)的噪聲相關(guān)矩陣模型,結(jié)合矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀精密的S參數(shù)校準(zhǔn),適用于較小噪聲系數(shù)被測(cè)件的測(cè)試。測(cè)量動(dòng)態(tài)范圍更大可達(dá)55dB,適用于較大增益被測(cè)件的測(cè)試。


頻譜測(cè)量分析

矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀的每個(gè)端口都可以完成被測(cè)件的輸入譜和輸出譜的測(cè)量,可在小的分辨率帶寬下快速地定位被測(cè)件雜散譜和諧波的狀態(tài)。


針對(duì)有源器件的測(cè)試,頻譜測(cè)量功能可提供更多的測(cè)量參數(shù),單臺(tái)儀器通過(guò)單次連接可實(shí)現(xiàn)常規(guī)的S參數(shù)測(cè)試、雜散和諧波的定位測(cè)量;完備的比值和測(cè)量誤差修正技術(shù)可提供更準(zhǔn)確的測(cè)量結(jié)果。


信號(hào)完整性測(cè)量分析

具備強(qiáng)大的信號(hào)完整性測(cè)量分析能力,可提供微米級(jí)的空間分辨率。單一視圖同時(shí)完成時(shí)域和頻域測(cè)試分析,可以精準(zhǔn)測(cè)試傳輸線上阻抗特性的變化情況;便捷的近端與遠(yuǎn)端串?dāng)_測(cè)試,用于測(cè)試多條傳輸線之間相互影響的程度。


時(shí)域分析選件具備基于網(wǎng)絡(luò)參數(shù)的虛擬眼圖生成及分析功能。根據(jù)不同的高速數(shù)字通信標(biāo)準(zhǔn),時(shí)域分析選件可以使用預(yù)先定義好的眼圖模板進(jìn)行高效率Pass/Fail測(cè)試。


總諧波失真(THD)測(cè)量分析

寬頻帶測(cè)試,可用于真差分激勵(lì)下的輸入輸出功率、增益、諧波總失真等參數(shù)的分析,簡(jiǎn)化差分器件的諧波性能測(cè)試復(fù)雜度。


單次校準(zhǔn)同時(shí)完成多通道的誤差修正,設(shè)置和測(cè)量參數(shù)的編輯可通過(guò)XML文件的方式進(jìn)行,一鍵實(shí)現(xiàn)參數(shù)導(dǎo)入。


自動(dòng)夾具移除

對(duì)于非標(biāo)準(zhǔn)接頭器件測(cè)試,如封裝微波器件、在片器件等,此類器件無(wú)法與矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀直接相連。通常使用夾具將被測(cè)件連接到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀上,但同時(shí)夾具也引入了測(cè)量誤差。自動(dòng)夾具移除功能可以進(jìn)行夾具參數(shù)的提取、存儲(chǔ)以及夾具去嵌入,終獲得被測(cè)件的真實(shí)參數(shù)。


的用戶體驗(yàn)

界面簡(jiǎn)潔直觀,便于操作,提高測(cè)試效率


外設(shè)接口豐富,靈活實(shí)用

1-10MHz外參考輸入/輸出接口

2-110V/220V自適應(yīng)電源輸入

3-可拆卸CPU模塊,配置硬盤、LAN、DP、USB、GPIB接口

4-激勵(lì)輸出、本振輸出等接口,提供靈活的測(cè)量配置,提供靈活的測(cè)量配置

5-外中頻輸入接口,脈沖輸入輸出接口

6-偏置T配置輸入接口

7-自動(dòng)測(cè)試接口,觸發(fā)輸入/輸出接口,噪聲源電源接口