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分類:新聞中心 發(fā)布時(shí)間:2024-04-18 647次瀏覽
隨著5G/6G光通信帶來的流量和速率的提升及物聯(lián)網(wǎng)、云計(jì)算帶動(dòng)數(shù)據(jù)中心的大規(guī)模建設(shè),400G光模塊已成為下一代光通信網(wǎng)絡(luò)和新一代數(shù)據(jù)中心的主流方案,其核心的光芯片帶寬從50/67GHz逐步向110GHz演變。為解決大帶寬光芯片的頻響測試難題,思儀科技突破多項(xiàng)核心技術(shù),重磅推出Ceyear 6433P光波元件分析儀(Lightwave Component Analyzer, LCA),產(chǎn)品調(diào)制頻率范圍覆蓋10MHz~110GHz,頻率響應(yīng)重復(fù)性±1.2dB,可實(shí)現(xiàn)光芯片的帶寬、平坦度、電反射等頻響參數(shù)的測量。
光芯片研發(fā)和生產(chǎn)中,對(duì)帶寬、電反射等指標(biāo)的測試,可準(zhǔn)確評(píng)估芯片的性能。6433P依據(jù)被測芯片的類型,搭配相應(yīng)的光電/電光轉(zhuǎn)換模塊,采用超寬頻帶1.0mm同軸連接,構(gòu)建“微波-電/光-光/電-微波”的測試鏈路,形成針對(duì)電光及光電芯片的頻響測試解決方案,如圖2為電光芯片(電光調(diào)制器芯片)頻響測試解決方案。
6433P集成電電(E/E)、電光(E/O)、光電(O/E)和光光(O/O)四種測試功能模式,功能模式之間支持一鍵切換,方便用戶結(jié)合測試場景,實(shí)現(xiàn)電光芯片(EAM、EAL等)、光電芯片(PIN、APD等)、光光芯片(EDFA、SOA等)及電電芯片(放大器芯片、混頻器芯片等)頻響參數(shù)的測量,如圖3所示,以光電探測器芯片為例,6433P通過搭配探針臺(tái)、高頻探針,利用儀器自帶的校準(zhǔn)端面管理功能,提取高頻探針的s2p文件,將該文件利用射頻去嵌入功能,消除探針對(duì)測試鏈路的影響,完成被測件的測量。
通過電光器件S11、S21參數(shù)及光電器件S22、S21參數(shù)的測試,利用多窗口對(duì)比、3dB帶寬分析等,用戶能獲取測試對(duì)象各頻點(diǎn)的反射參數(shù)、傳輸參數(shù)等頻響特性,滿足科研、產(chǎn)品線等測試需求。
6433P的調(diào)制頻率可下探至500Hz,滿足用戶低頻段測試需求;小1Hz的頻率分辨率和更高200001點(diǎn)的測量點(diǎn)數(shù),能夠帶來更豐富的頻點(diǎn)信息和更精細(xì)的測量結(jié)果;配置四端口機(jī)型可實(shí)現(xiàn)平衡光發(fā)射或光接收芯片對(duì)差分增益參數(shù)的測試需求;配備的LAN、GPIB遠(yuǎn)程控制接口及SCPI指令集,為系統(tǒng)集成及自動(dòng)化測試提供有力的保障。
6433P光波元件分析儀具有寬頻帶同軸覆蓋、測試功能豐富、一鍵式快速掃頻等優(yōu)點(diǎn),具備出色的微波及光電特性。靈活的硬件配置和豐富的軟件功能相輔相成,助力用戶解決光芯片頻響測試難題。
是德科技E5080B 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀keysight E50...
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